螺栓型可控硅是一种常用的电子元件，广泛应用于电力控制领域。为了确保其正常工作，并及时发现故障，需要进行有效的测试和测量。测量螺栓型可控硅好坏的方法包括静态测试和动态测试两种。静态测试主要是通过测量端子之间的电压和电阻来判断元件的状态，而动态测试则会对元件施加一定的电压和电流进行测试。同时，可以利用示波器、万用表和特定的测试仪器进行测试，以确保测量的准确性和可靠性。通过正规的测量方法和合适的工具设备，可以有效地判断螺栓型可控硅的好坏，以及及时进行维护和更换。

1、万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

2.将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。此时万用表指针应不动。用短线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该可控硅已击穿损坏。